空間的不均一性とは
試験面内で照度が位置によって変化する度合いです。測定面を格子状に走査し、最大値と最小値をその平均に対して評価します。
効率測定への影響
セルの各部が異なる照度を受けると、局所電流が不均一になり、内部ミスマッチが生じます。その結果、Isc、FF、Pmaxが変化します。大面積モジュールや局所欠陥を持つ試料では特に重要です。
主な原因
LED配列、光学ミキサー、作動距離、照射範囲の端部、治具による影などです。均一性クラスは必ず試験面積と高さを併記して評価します。
正しい確認方法
中心点だけでなく全面をマッピングする
光学系や距離変更後に再測定する
認定された範囲内で試料を測定する
不均一性を不確かさに含める
ソーラーシミュレーターとI-Vシステム、または技術相談をご覧ください。